计算机片外Flash故障的研究

计算机片外Flash故障的研究

叶心波　李　健　王前程

（中国空空导弹研究院）

摘要：某产品计算机在低温测试过程中出现片外Flash故障，通过对芯片读写状态的分析，发现在低温状态下，芯片复位不充分产生的故障，深层次地分析Flash芯片的工作模式，利用冗余读操作，启动芯片内部状态机的运行，使芯片再次复位，解决此故障。

关键词：存储器；自检